МОСКВА, 15 ноя – РИА Новости. Завод "Протон", локализованный на территории ОЭЗ "Технополис Москва", наладил выпуск лабораторного оборудования, заменив в нем импортные датчики на собственную разработку, сообщает пресс-служба столичного департамента инвестиционной и промышленной политики (ДИПП).

       Новая разработка завода "Протон" применяется в конструкции контурографов – специальных измерительных устройств для контроля контура и шероховатости поверхностей.

       28 октября, 07:49

       "Технополис Москва" начнет производить биопрепараты для заживления кожи

       "Ранее в них использовались иностранные высокотехнологичные датчики. Теперь эти приборы полностью состоят из российских комплектующих, которые не уступают импортным по характеристикам и не увеличивают конечную цену оборудования" - отметил глава департамента Владислав Овчинский.

       Он уточнил, что ежегодно предприятие выпускает 70 единиц лабораторного метрологического оборудования четырех видов для научных и образовательных учреждений.

       Заказы на такое оборудование поступают от порядка 30 российских предприятий. Помимо научных лабораторий, основными заказчиками контурографов являются нефтегазовые и ядерные предприятия, а также различные заводы, производящие, например, трубы для нефтегазового сектора.

       "В настоящее время "Протон" проводит большую работу по импортозамещению в радиоэлектронной отрасли. Сейчас предприятие получает три-четыре заказа на контурографы в год, так как на рынке представлено зарубежное оборудование. Однако, если потребуется обеспечить технологический суверенитет и в этой сфере, завод готов выпускать лабораторное оборудование в гораздо больших объемах", – подчеркнул ведущий конструктор АО "Завод Протон" Владимир Логинов.

       Как рассказали в ДИПП, выпускаемое на предприятии лабораторное оборудование для научных и образовательных учреждений обладает уникальными техническими и эксплуатационными характеристиками. Так, сканирующие туннельные, атомно-силовые и мультимикроскопы, а также профилометры и контурографы для анализа поверхностных наноструктур и геометрии поверхности твердых тел позволяют проводить измерения как снаружи, так и внутри деталей на большой глубине, без необходимости разрушения деталей с точностью измерения менее 1 микрометра.

       7 сентября, 11:45 Департамент инвестиционной и промышленной политики города Москвы

       Объем выручки резидентов технополиса "Москва" вырос на четверть