用户名/邮箱
登录密码
验证码
看不清?换一张
您好,欢迎访问! [ 登录 | 注册 ]
您的位置:首页 - 最新资讯
ВНИИФТРИ разрабатывает новый эталон по измерениям в микроэлектронике
2025-08-06 00:00:00.0     俄罗斯国家科学中心协会-新闻     原网页

       

       Во Всероссийском научно-исследовательском институте радиотехнических и физико-технических измерений (ВНИИФТРИ) Росстандарта прошло плановое заседание Рабочей группы по стандартизации, метрологии, качества и оценки соответствия при Консультативном Совете Министерства промышленности и торговли Российской Федерации.

       Рабочая группа рассмотрела вопросы стандартизации в области электронного машиностроения в части измерений на полупроводниковых пластинах; развития информационно-аналитической системы ЦСМ для метрологов; совершенствования законодательства РФ в области обеспечения единства измерений в сфере охраны здоровья граждан и др.

       ФГУП ?ВНИИФТРИ? обратило внимание на необходимость разработки проектов стандартов по измерениям на полупроводниковой пластине и направлении их в технический комитет ТК 312 ?Электронное машиностроение и специальные материалы?, контролируемый Росстандартом, для включения их в План национальный стандартизации на 2026 г.

       В настоящее время ФГУП ?ВНИИФТРИ? разрабатывает специальный эталон единиц комплексного коэффициента передачи и отражения (ККП и ККО) на полупроводниковой пластине и, в кооперации с технологическими партнерами, налаживает производство отечественных калибровочных пластин и зондов с целью обеспечения единства измерений в этой области. Эталон будет состоять из зондовой станции, векторного анализатора цепей, измерительных зондов и вспомогательного оборудования. В качестве калибровочных пластин и измерительных зондов предполагается использовать изделия отечественного производства.

       ?Полупроводниковые пластины являются основным материалом для производства интегральных схем и других электронных компонентов в микроэлектронике и должны обеспечивать высокую степень точности и надежности в измерениях. Сегодня разработка и внедрение стандартов, регулирующих эти процессы, стали производственной необходимостью в области электронного машиностроения, обеспечивающей высокое качество и надежность продукции. Единые подходы к определению метрологических характеристик эталонных мер и способов передачи единиц (единиц ККО и ККП), воспроизводимых новым эталоном, конечному потребителю, позволят повысить достоверность результатов измерений при разработке, испытаниях и производстве продукции отечественной микроэлектроники?, - отметил начальник НИО-1 ФГУП ?ВНИИФТРИ?, к.т.н. Олег Каминский.

       Рабочая группа направит свои предложения в Консультативный Совет Минпромторга РФ для дальнейшей работы.

       


标签:综合
关键词: ВНИИФТРИ     измерительных зондов     области     единиц     полупроводниковой     измерений    
滚动新闻